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PART1

研讨会基本信息

NI测试测量技术研讨会北京站即将启幕！ 本次会议以“AI+测试”为核心，深入探讨人工智能在测试测量领域的落地实践。

现场将集中展示多款新产品，包括AI能力进一步增强的新版本 LabVIEW、新一代 PXI 机箱、控制器及仪器板卡，以及全新 USRP X420等。

会议还将覆盖商业卫星互联网、半导体测试、院校前沿研究、人形机器人等热点领域，携手探索智能测试新机遇，共赢未来。

先报名，预约席位

活动时间

2026年4月16日（星期四）

13:30-17:00（12:00开始签到）

活动地点

北京新云南皇冠假日酒店

（地址：北京市朝阳区东北三环西坝河太阳宫桥东角云南大厦）

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码上报名

NI测试测量技术研讨会北京站

PART2

为什么参会？

  • 聚焦“测试 + AI”前沿趋势，探讨 AI 如何真正赋能测试开发流程

  • 中国特别版PXI产品发布，性能不负众望，价格超乎想象

  • 射频及航空航天论坛，汇集大带宽流盘回放、信道仿真测试、射频参数测试等功能

  • 前沿行业应用，包含AI通信系统，相控阵，6G研究、人形机器人、高速ADC等

  • 展示环节，超过15个实机系统，现场体验，与资深工程师深入交流

PART3

谁适合参加？

  • 测试测量工程师、研发工程师

  • 工程团队负责人，技术总监

  • 院校及研究所研究人员

  • LabVIEW爱好者，开发者