国家知识产权局信息显示，深圳市宇辉光学科技有限公司申请一项名为“基于多源数据分析的复合光学膜滑移监测系统及方法”的专利，公开号CN121855400A，申请日期为2026年3月。

专利摘要显示，本发明公开了基于多源数据分析的复合光学膜滑移监测系统及方法，涉及光学检测技术领域，该方法包括：获取复合光学膜在测量视场内的光程分布场；计算光程分布场沿正交第一方向与第二方向的一阶偏导数，得到第一偏导数场与第二偏导数场；计算第一偏导数场沿第二方向的偏导数得到第一混合偏导场，计算第二偏导数场沿第一方向的偏导数得到第二混合偏导场；计算第一混合偏导场与第二混合偏导场的差值，构造二阶混合偏导差值场；将差值场中各场值与预设阈值比较，生成二值标记矩阵；根据二值标记矩阵识别滑移候选点并转换为物理坐标，在测量视场中标记层间滑移的位置区域。

天眼查资料显示，深圳市宇辉光学科技有限公司，成立于2020年，位于深圳市，是一家以从事橡胶和塑料制品业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市宇辉光学科技有限公司参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息26条，此外企业还拥有行政许可5个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

本文源自：市场资讯

作者：情报员