国家知识产权局信息显示，浙江日拓电子股份有限公司申请一项名为“一种半导体探针设备的电气性能测试方法及系统”的专利，公开号CN121856693A，申请日期为2026年3月。

专利摘要显示，本发明提供一种半导体探针设备的电气性能测试方法及系统，包括给设备多探针施加含第一直流偏置、第一频率正弦波的第一激励信号，采集第一响应信号算各探针基波接触电阻，对第一直流偏置阶跃调整，测基波接触电阻稳态恢复时间确定各探针弛豫时间；根据各探针弛豫时间，匹配表示特性的第二频率，施加含第二直流偏置与对应第二频率正弦波的第二激励信号，采集第二响应信号，计算所述信号在第二频率预设整数倍频率处的谐波分量幅值；以单探针为目标探针，按基波接触电阻相似度，从空间邻域筛选参考探针，结合二者谐波分量幅值构建目标探针空间相关性特征向量，基于各探针基波接触电阻与对应空间相关性特征向量，判定设备电气性能。

天眼查资料显示，浙江日拓电子股份有限公司，成立于2014年，位于嘉兴市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1200万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江日拓电子股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目2次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息38条，此外企业还拥有行政许可7个。

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作者：情报员