国家知识产权局信息显示，武汉市泓锦瑞科技发展有限公司取得一项名为“一种X射线无损检测内部缺陷探测装置”的专利，授权公告号CN224152379U，申请日期为2025年5月。

专利摘要显示，本实用新型公开了一种X射线无损检测内部缺陷探测装置，包括方壳体，所述方壳体的上表面固定安装有旋转电机，所述旋转电机的输出端固定连接有转动杆，所述转动杆的底端固定连接有方框架，所述方框架的内壁固定连接有电动推杆，所述电动推杆的输出端固定连接有连接架，所述连接架的外表面分别固定安装有高分辨率探测器和高功率X射线源，所述方壳体的右侧面固定安装有触摸显示屏幕。本装置通过旋转电机带动转动杆和方框架旋转，使高分辨率探测器和高功率X射线源能够围绕被检测物体进行多角度检测，同时利用电动推杆可调节连接架的位置，进一步扩大了检测范围，能够全面覆盖被检测物体的内部结构，减少检测盲区，提高检测结果的准确性。

天眼查资料显示，武汉市泓锦瑞科技发展有限公司，成立于2009年，位于武汉市，是一家以从事通用设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉市泓锦瑞科技发展有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目13次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息34条，此外企业还拥有行政许可3个。

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作者：情报员