国家知识产权局信息显示，上海共进微电子技术有限公司申请一项名为“一种半导体器件测试系统分选机的性能预测优化方法”的专利，公开号CN121920598A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种半导体器件测试系统分选机的性能预测优化方法，该方法包括：从分选机获取实时数据流，并根据实时数据流确定分选机中用于执行半导体器件取放动作的多个执行器各自的动作时长序列；将各执行器的动作时长分别与对应的预设基准时长均值进行比较，以确定各执行器的动作时长偏差序列；根据各执行器的动作时长偏差序列，基于已训练的性能预测模型进行处理，以确定分选机的分度时间的预测变化情况，能够从早期细微偏差中预判未来性能衰减趋势，可提前识别分选机潜在的性能衰退风险，进而减少非计划停机时间、保障设备吞吐量与产品良率，同时降低对人工实时监测与经验判断的依赖，提升半导体器件测试分选过程的稳定性与效率。

天眼查资料显示，上海共进微电子技术有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本16320万人民币。通过天眼查大数据分析，上海共进微电子技术有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息6条，专利信息42条，此外企业还拥有行政许可1个。

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本文源自：市场资讯

作者：情报员