国家知识产权局信息显示,ASML荷兰有限公司申请一项名为“对量测工具的测量照射进行光谱配置的方法和相关联的装置”的专利,公开号CN121969990A,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,公开了对量测工具的测量照射进行光谱配置的方法,方法包括:使用所述投射光学系统来投射测量辐射,以获得经投射的测量辐射;在检测器处测量经投射的所述测量辐射的信号幅度度量;根据信号幅度度量来确定经投射的测量辐射的光谱形状;以及在投射光学系统之前对测量照射进行光谱配置,以调整所述光谱形状来匹配期望的光谱形状。

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作者:情报员