国家知识产权局信息显示，半导体元件工业有限责任公司申请一项名为“具有用于增强蓝光检测的光学结构的半导体器件”的专利，公开号CN121985611A，申请日期为2025年1月。

专利摘要显示，本公开涉及具有用于增强蓝光检测的光学结构的半导体器件。公开了一种半导体器件。该半导体器件包括多个图像像素。每个图像像素包括半导体区和单光子雪崩二极管，该单光子雪崩二极管形成在该半导体区中。每个图像像素还包括光学结构，该光学结构设置在该半导体区中并从该半导体区的上表面延伸到该半导体区的内部中。每个图像像素还包括微透镜，该微透镜被配置为将由该图像像素接收的光聚焦到该光学结构中。

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作者：情报员