Santec 快速扫描测量系统整合了 TSL 可调谐激光器、 MPM 光功率计、 PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件，为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台。系统同时采集可调谐光源的输出功率及DUT 透过的光功率作实时参比，获取高精度的IL、WDL 以及 PDL ( 采用Muller 矩阵方法)。

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主要特性：实时功率参考：高精度的WDL/PDL 测试；- 功率可重复性<±0.02dB；-PDL 可重复性<±0 .01dB；缩放运算：高波长精度/ 节省测量时间；支持多通道测量；支持图形介面软件及编程接口 (DLL)

应用方向：器件和模块光学特性测试：可调谐滤波器，插入器，FBG, 耦合器，分光器，隔离器，开关 …-WSS 及波长阻断器-DWDM 器件；硅光子材料表征，包括微腔环形谐振器；光谱；干涉测量