国家知识产权局信息显示，皇家飞利浦有限公司申请一项名为“双层平板探测器中探测器模糊的能谱校正”的专利，公开号CN122439106A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，一种用于基于X射线的成像的校正系统(CS、CRS)或相关方法。所述系统(CS、CRS)可以包括输入接口(IN)，通过该输入接口能接收在X射线成像装置(IA)的探测器设备(XD)的传感器层(LC)处所探测到的X射线辐射测量(λ)数据。校正器组件(CC)施加校正操作，以校正所接收的测量(λ)数据所经历的源自探测器内部的强度扩散效应，从而获得经校正的测量结果(λ’)。所述校正操作取决于在所述位置(PX)处所探测到的X辐射的不同能谱。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

本文源自：市场资讯

作者：情报员