新能源汽车、光伏储能、5G 射频与第三代半导体产业飞速发展，SiC、GaN 功率芯片、光电器件的高低温可靠性验证、失效分析需求持续爆发。长期以来，高端高低温探针台市场被海外品牌垄断，采购成本高、售后响应慢、定制周期长成为国内科研院所、芯片企业的共同痛点长恒荣创。
深耕半导体测试设备十余年的深圳本土厂商森东宝（Cindbest），推出 CT-8 高低温探针台，专为 8 英寸及以内样品打造，兼顾研发实验室、可靠性实验室、中小批量检测全场景需求，以国产化高性价比方案，打破海外设备技术与价格壁垒。

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一、适配全品类试样，8 英寸以内通用测试平台
行业内不少高低温探针台仅支持小片样品，更换不同尺寸晶圆需更换载台，大幅降低测试效率。森东宝 CT-8 从客户实际测试场景出发，整机最大兼容8 英寸整片晶圆，同时适配 6/4/2 英寸晶圆、切割裸片、MEMS 传感器、光电器件、分立功率芯片等各类试样。
一台设备即可覆盖硅基芯片、宽禁带半导体、光电探测器、二维材料等多品类器件的电学、光电性能测试，高校实验室、芯片设计公司、第三方检测机构无需多台设备重复投入，有效降低设备采购成本。
二、密闭屏蔽腔体四大核心优势，解决低温测试行业痛点
在高低温循环测试中，低温结霜凝露、外部电磁干扰、液氮耗材损耗大、无法适配探针卡批量测试，是行业四大常见难题。森东宝 CT-8 通过自主结构优化，逐一攻克行业痛点：
1. 密封屏蔽腔体 + 氮气正压，低温无凝露、测量无干扰
整机采用一体式密闭腔体结构，腔体内置电磁屏蔽层，可隔绝外界杂波干扰，保障 pA 级微弱电流、射频参数测量数据稳定、重复性高。
低温测试模式下，腔体可通入干燥氮气形成内部正压，隔绝潮湿空气进入腔体，从根源杜绝样品、探针针尖结霜、凝露，避免器件短路、探针氧化损坏，大幅减少样品报废与探针耗材损耗。
2. 多层复合保温结构，节能降耗，降低长期使用成本
CT-8 腔体搭载森东宝自研多层隔热保温结构，相比传统高低温探针台，冷量流失大幅减少，液氮消耗量显著降低，长期循环测试可节约大量耗材支出酷音网。
同时设备升降温曲线平稳可控，晶圆样品表面温场均匀，满足 JEDEC 汽车电子温度循环、高温存储等可靠性测试标准，恒温等待时间缩短，整体测试效率提升 30% 以上。
3. 可升降温控载台，探针卡、单探针双模式兼容
设备温控载台支持垂直升降调节，拆装操作简单便捷，可快速换装各类商用探针卡，完美适配多探针并行探测、半自动中小批量器件检测场景；同时兼容单探针座手动微操，兼顾实验室基础研发、器件失效单点分析需求。
一套设备同时满足研发单点测试、批量探针卡测试两种工况，无需额外改造、更换配件，设备综合利用率大幅提升。
三、全场景适配，覆盖科研、可靠性、失效分析全流程
1. 高校 / 科研院所实验室
适配二维材料、量子器件、光电芯片基础电学表征，高低温环境模拟材料极限性能，支持课题研发、样品基础性能测试。
2. 芯片企业可靠性实验室
针对 SiC/GaN 车规级功率器件、快充芯片开展高低温循环、高温存储可靠性验证，出具合规测试数据，满足车规认证标准。
3. 第三方检测机构 / 失效分析实验室
可完成芯片冷热冲击后的失效定位、漏电异常、光电参数衰减分析，腔体屏蔽设计保障微弱信号失效检测精准度。
四、森东宝本土厂家实力，国产化设备售后更省心
作为深圳自研自产半导体探针台源头厂家，森东宝全部系列探针台核心机械结构、温控系统、运动平台均实现自主研发生产，无海外卡脖子零部件，设备采购价格仅进口设备 1/2-2/3，交付周期更短。
完善质保服务：整机提供 1 年免费保修，7×24 小时技术工程师在线答疑；广东省内故障报修 24 小时上门现场调试维修。
模块化定制服务：可根据客户需求定制温控区间、探针臂数量、射频 / 光电观测配件，适配特殊器件测试需求。
稳定交付周期：CT-8 标准机型货期 7-15 天，定制化机型 30-45 天，可快速匹配实验室建设、产线扩产进度。