国家知识产权局信息显示，湖南奥创普科技有限公司申请一项名为“融合检测框与光学指标的芯片表面异色缺陷检测方法、系统、设备及介质”的专利，公开号CN122493141A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，本发明涉及融合检测框与光学指标的芯片表面异色缺陷检测方法、系统、设备及介质，其方法包括：对芯片缺陷图像的异色缺陷区域进行基于光学指标的拓展标注，生成训练图像数据集；在初始神经网络模型中增设光学指标回归检测头，并同步微调特征通道配置以适配光学指标回归检测头的特征传递，生成多任务神经网络模型；依据训练图像数据集，采用加权混合损失函数对模型进行渐进式协同训练，并根据训练过程中回归任务的损失变化，动态调整各特征通道权重；利用训练后的模型对输入的芯片图像进行推理，得到包含异色缺陷等级的检测结果。本发明实现了对芯片表面异色缺陷的精准定位、细粒度分类与光学特性量化分级，显著提升了检测精度与效率。

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作者：情报员