国家知识产权局信息显示，深圳市广和通科技有限公司取得一项名为“测试电路和测试装置”的专利，授权公告号CN224583325U，申请日期为2025年7月。

专利摘要显示，本申请实施例提供一种测试电路和测试装置，该测试电路包括：第一SIM卡、开关单元；第一SIM卡的第一端连接开关单元的第一端，开关单元第二端连接第一测试设备的第一端，开关单元的第三端连接第二测试设备第一端；在开关单元的第一端与开关单元的第二端连通，且开关单元的第一端与开关单元的第三端断开的情况下，第一测试设备与第一SIM卡连通，第一测试设备具备利用第一SIM卡进行注网测试的能力；在开关单元的第一端与开关单元的第三端连通，且开关单元的第一端与开关单元的第二端断开的情况下，第二测试设备与第一SIM卡连通，第二测试设备具备利用第一SIM卡进行注网测试的能力。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

本文源自：市场资讯

作者：情报员