国家知识产权局信息显示，杭州博思芯宇科技有限公司申请一项名为“片上老化监测点的选取方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN122509100A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本申请涉及芯片测试技术领域，尤其涉及片上老化监测点的选取方法、装置、设备及存储介质。方法包括：对各路径多维度的门级特征进行降维及路径权重评估，选取多条代表性路径以构建代表性路径集合；基于延迟边界约束与触发节点可观测性前移的逻辑屏蔽策略，从所述代表性路径的末端向扇入方向进行逆向拓扑追踪，从各所述代表性路径中标定多个候选观测点并构建候选观测点集合；基于所述代表性路径集合与所述候选观测点集合构建映射关系，在覆盖率或观测点数量约束下，结合路径权重，通过全局最优规划模型进行目标观测节点动态选取。本申请能够降低物料成本，提高信号捕捉效率，并实现全局最优目标观测点监测选取。

天眼查资料显示，杭州博思芯宇科技有限公司，成立于2024年，位于杭州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本680.6756万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州博思芯宇科技有限公司共对外投资了4家企业，专利信息10条。

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作者：情报员