国家知识产权局信息显示,重庆奕能科技有限公司申请一项名为“半导体膜层元素含量变化检测方法、装置、设备及存储介质”的专利,公开号CN122555438A,申请日期为2026年4月。

专利摘要显示,本申请公开了一种半导体膜层元素含量变化检测方法、装置、设备及存储介质,方法包括:获取待测晶圆的初始形貌参数;基于待测晶圆制备待测半导体膜层,并获取待测半导体膜层的厚度值和待测半导体膜层的当前形貌参数;基于待测晶圆的初始形貌参数、待测半导体膜层的厚度值以及当前形貌参数获取待测半导体膜层的当前应力值;基于待测半导体膜层的当前应力值和预设基准应力值,得到元素含量变化结果。本申请通过测量、比对待测半导体膜层的当前应力值与预设基准应力值,能够高效、低成本、即时地监控半导体膜层中元素含量的异常。

天眼查资料显示,重庆奕能科技有限公司,成立于2023年,位于重庆市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1457.1428万人民币。通过天眼查大数据分析,重庆奕能科技有限公司共对外投资了3家企业,财产线索方面有商标信息2条,专利信息76条,此外企业还拥有行政许可2个。

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作者:情报员