国家知识产权局信息显示，同方威视技术股份有限公司;清华大学申请一项名为“用于分布式射线源的测量装置及测量方法”的专利，公开号CN122545545A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，提供了用于分布式射线源的测量装置及测量方法，涉及辐射扫描技术领域。装置包括：底板，底板用于连接至分布式射线源，底板开设有槽，槽覆盖分布式射线源的射线输出窗；导向部件，导向部件位于底板；可移动部件，可移动部件与导向部件配合，可移动部件能够在导向部件的引导下沿第一方向移动，第一方向平行于分布式射线源的多个焦点的排布方向；以及测量组件，测量组件位于可移动部件，测量组件能够在可移动部件的带动下沿第一方向移动，其中，测量组件包括针孔板、屏蔽筒和探测器，针孔板包括针孔，针孔用于供至少一个焦点发出的射线穿过；沿射线的射出方向，屏蔽筒位于针孔板和探测器之间；探测器用于探测从针孔和屏蔽筒穿过的射线的至少一部分。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

本文源自：市场资讯

作者：情报员