国家知识产权局信息显示，科磊股份有限公司申请一项名为“使用基于参考的合成光谱的计量”的专利，公开号CN122580558A，申请日期为2025年1月。

专利摘要显示，一种计量系统可通过以下而实施计量配方：产生用于计量测量的真实训练数据集；产生用于所述计量测量的合成训练数据集；用所述真实训练数据集及所述合成训练数据集训练机器学习模型以产生所述计量测量的值；及从与一或多个运行时间样本相关联的测量数据产生所述一或多个运行时间样本的计量测量。可通过接收参考数据、执行降维操作及识别真实训练数据的满足与所述参考数据的第一相关性阈值的一或多个相关主分量而产生所述真实训练数据集。接着可通过从合成训练数据提取相同相关主分量及筛选以同样满足与所述参考数据的相关性阈值而产生所述合成训练数据集。

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作者：情报员