塑料薄膜看起来厚度均匀，但在实际生产中，挤出、吹膜、拉伸以及复合工艺的细微变化，都可能造成横向或不同位置厚度不一致。对于只有几十微米甚至更薄的材料而言，这种差异虽然肉眼难以发现，却可能进一步影响材料的拉伸性能、热封效果、阻隔性能以及单位面积用料。
三泉中石CHY-S塑料薄膜测厚仪，采用接触式机械测量原理，分辨率可达1 μm，可用于塑料薄膜、复合膜、纸张、纸板、金属箔片及硬片等材料的厚度测量。
薄膜厚度为什么不能随便“量一下”？
GB/T 6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法》等同采用ISO 4593:1993，规定了塑料薄膜和薄片采用机械方法进行厚度测量的试验方法。
这类测量并不是简单使用卡尺夹住薄膜读取数字。
薄膜材料本身较软，如果测头下落过快、接触压力过大或者测试面积发生变化，都可能使试样被压缩，从而影响最终测量结果。因此，标准机械测量法需要在规定的测量面、压力条件下，使测头平缓接触试样。
三泉中石的塑料薄膜测厚仪CHY-S采用固定压力、固定接触面积的接触式测试方式，测量头自动下降至试样表面，减少人工按压造成的力度差异，使薄膜不同位置之间的厚度数据更具有可比性。
需要注意的是，GB/T 6672-2001不适用于压花薄膜或压花薄片。
GB/T 6672-2001测厚时，取几个点才合适？
薄膜厚度检测不能只测一个位置，因为单点数据很难反映整幅材料的厚度均匀性。
按照标准要求，应在距样品纵向端部约1 m处，沿横向整个宽度截取宽度为100 mm的试样。试样除正常提交或包装产生的折叠外，应尽量避免折皱和其他明显缺陷。
试样在（23±2）℃条件下至少调节1小时后进行检测。正式测量前，还应确认试样和测量仪接触面没有油污、灰尘等污染，并检查仪器零点。
测量点数量则根据试样长度确定：
- 试样长度≤300 mm，测量10点；
- 300 mm＜试样长度＜1500 mm，测量20点；
- 试样长度≥1500 mm，至少测量30点。
对于未裁边样品，应从距边缘50 mm的位置开始测量。
通过多点测试，可以进一步观察薄膜横向厚度是否稳定，而不是只得到一个局部厚度值。
一台设备为什么能测薄膜，也能测纸张？
不同材料虽然都需要检测“厚度”，但材料硬度、压缩性和表面状态并不完全相同。
薄膜通常柔软且厚度较小，测量时要尽量避免压缩变形；纸张和纸板具有一定可压缩性，其厚度测试又需要匹配相应的测量压力和测头面积。
塑料薄膜测厚仪CHY-S可扩展用于：
塑料薄膜与复合膜
用于包装膜、复合包装材料等微米级厚度测量。
纸张与纸板
更换相应测量头后，可用于纸张、纸板等材料厚度检测，具体试验条件应按照对应纸张检测标准执行。
金属箔片
可用于铝箔等薄型金属材料的厚度检测。
硬片及片材
适用于一定厚度范围内的塑料片材及其他硬质材料。
因此，“纸张厚度测定仪”并不局限于纸张检测，在匹配相应测量头和试验方法后，可以覆盖多种软质、硬质材料的厚度质量控制。
塑料薄膜测厚仪CHY-S在实际测厚中的实用性
对于生产企业而言，每批材料往往需要检测多个位置。如果全部采用人工记录，不仅工作量大，后期进行最大值、最小值和平均值比较也比较繁琐。
三泉中石的塑料薄膜测厚仪CHY-S采用彩色液晶屏，可直接显示单次测试结果及统计数据；设备可自动保存不少于500组测试结果，方便进行历史数据查询。
仪器还配备微型打印机，可快速打印单次测量结果、最大值、最小值和平均值。
对于需要对不同批次薄膜进行横向厚度均匀性比较的企业，这种数据管理方式能够帮助质量人员更快发现局部偏厚、偏薄以及批次波动问题。
为什么选择Sumspring三泉中石？
厚度检测看似基础，但对于微米级薄膜而言，测量头精度、施压稳定性、位移分辨率和数据重复性都会影响最终结果。Sumspring三泉中石围绕薄膜、纸张及包装材料物理性能检测，形成了厚度、摩擦系数、拉伸、热封、热收缩、落镖冲击及密封性等系列化检测设备。
三泉中石的CHY-S塑料薄膜测厚仪采用高精度测量系统，并可针对薄膜、纸张、纸板和金属箔等不同材料配置相应测量头。三泉中石可根据用户实际样品、厚度范围及执行标准的测试方法，提供仪器应用方面的技术支持。
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