在OLED发光材料的研发进程中，性能参数的精准高效测试是加速材料迭代的核心前提，尤其是效率、色度等关键指标的同步检测，对测试设备的集成度和专业性提出了极高要求，这类测试可以通过有机OLED EL光谱成像测试仪实现，目前主流的电致发光光谱测量仪NovaLum支持IV、IVλ、IVL、IVLλ测试，能大幅提升研发效率。
NovaLum是一款电致发光器件前向亮度、IVL、寿命与角度分布测量平台，用于测量OLED、QLED、PeLED及显示器件的亮度、效率、光色和空间发光特性。系统兼顾低亮与高亮测试。适用于微小器件、多像素阵列、显示材料、器件寿命和角度发光分析。微显示、AR/VR、OLED、QLED和PeLED器件对高亮度、低亮度、角度分布、效率滚降和寿命提出更严格要求。NovaLum的前向亮度与角度测量适合分析真实观察方向的出光性能，并支持微小器件和多像素阵列测试。
技术特点
1.支持IV、IVλ、IVL、IVLλ、器件寿命和自动角度分布测量，获得效率、光色和空间发光分布。
2.亮度范围覆盖0.01-9,999,900 cd/m²，并通过自动积分时间兼顾低亮度测量速度与高亮度防过曝。
3.提供1/3°测量角及小至Ø4.5 mm测量区域，适配面光源、微小器件和多像素阵列。
4.波长准确度达到±0.2 nm，色坐标不确定度达到±0.0015级。
5.集成自动对焦、三轴位移、可视化观察、多子器件切换及惰性气氛转移测试。
6.前向亮度、光谱、IVL、寿命和角度分布可在同一器件位置测量，便于分析出光方向与效率变化。
核心优势
1.准确前向亮度与宽动态范围解决分光辐射计低亮慢、高亮过曝以及积分球前向亮度不足的问题。
2.角度分布、寿命与IVLλ功能模块，毫秒级快速采集，测试功能全面、高效。
3.自动对焦、位移和器件切换提高微小器件、多像素和易老化样品的测试效率。
4.前向亮度、角度分布和宽动态测量更贴近显示器件的实际观察条件，适合微显示与高亮度器件研究。
在OLED发光材料的研发筛选流程里，效率测试是绝对绕不开的核心环节，是判断材料性能是否达标的关键门槛。 对于从事OLED发光材料研究的从业者来说，量子效率是最核心的性能指标之一。其中外量子效率（EQE）直接决定了器件最终能实现的亮度上限，是衡量材料发光转化能力的关键参数；而电流效率和功率效率则和器件的实际工作功耗直接挂钩，直接影响后续产品的续航表现和能耗水平，这几项参数共同构成了评估OLED材料实用价值的核心依据。
按照传统的测试方案，这些参数需要多台仪器配合才能完成测试：用光谱仪检测发光光谱，用积分球测量光通量，用源表采集电流电压数据，不同仪器的数据存储在各自独立的软件中，后续需要研究人员手动汇总、匹配、整理，不仅耗时耗力，还容易出现数据匹配误差，无形之中增加了不少工作量。
现在NovaLum测试系统实现了IV、IVλ、IVL、IVLλ等多类测试功能的高度集成，只需要一次测量，就能同步获取外量子效率、电流效率、功率效率全套核心效率参数，同时还能输出CIE色度坐标、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、RGB颜色值、峰值波长等完整的色度学参数，真正做到了效率与色度性能测试的“一站式搞定”，省去了多台设备切换、多源数据整合的麻烦。
对于专注于OLED材料配方优化的研发团队来说，这种一体化测试平台的实用价值尤为突出。不管是测试同一材料在不同电流密度下的效率变化趋势曲线，还是对同一批次制备的多个不同样品做横向性能对比，所有测试工作都可以在同一套系统上完成，输出的所有数据格式完全统一，后续的数据分析、对比工作可以省去大量格式对齐、数据校准的步骤，能帮研发团队省下不少精力，把更多时间投入到材料本身的优化迭代中。
随着OLED产业的快速发展，材料研发的迭代速度不断加快，高效精准的测试设备已经成为研发团队不可或缺的核心助力，作为集成IV、IVλ、IVL、IVLλ测试能力的有机OLED EL光谱成像测试仪，电致发光光谱测量仪NovaLum已经成为OLED材料研发的核心效率工具，为行业的技术升级提供了坚实的测试支撑。
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