BSRH-500型霍尔系数仪

关键词：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数

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本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-50A型效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一 体，大大减化了实验的连线与操作.BSRH-500型霍尔系数仪可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、 表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率 (Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance) 等等。

一、主要技术参数：

电阻率检测范围:10-4Ω·cm~ 106Ω·cm

载流子浓度检测范围:10-7~ 1021cm-3

载流子迁移率检测范围:10-1~ 107cm2(V·s);

温度测量范围:室温;

可测试样品尺寸:边长或直径:10mm-20mm，厚度:～lmm;

测试氛围:支持真空与惰性气体。

二、可测试材料类型：半导体材料：SiGe,SiC,InAs,InGaAs,InP,AlGaAs, HgCdTe和铁氧体材料等

低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等

高阻抗材料：半绝缘的GaAs,GaN,CdTe等

材料导电粒子：材料的P型与N型测试

电源：220V,50/60HZ

设备重量：150KG