国家知识产权局信息显示，天津伟测半导体科技有限公司申请一项名为“一种功率半导体动态测试保护电路及方法”的专利，公开号CN122775908A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本申请公开了一种功率半导体动态测试保护电路及方法，涉及半导体测试技术领域，解决了现有技术中保护电路适用性差、触发保护方式不全面以及开启保护时间不精确的问题，该电路包括测试脉冲发生器和测试回路，测试回路包括串联于母线电源之间的保护电路PC、被测器件和陪测器件，保护电路PC包括时间控制单元和开关单元，时间控制单元用于提供基准时钟信号以及设定断开测试回路的时间点，开关单元用于在满足预设的触发条件时断开所述测试回路，触发条件包括时间控制单元的计时到达预设时间点，能够适应于双脉冲测试回路、反向恢复测试回路以及短路测试回路，当测试开始后，能够在可能造成损坏的电路时间点对测试回路进行断开操作，达到电路保护目的。

天眼查资料显示，天津伟测半导体科技有限公司，成立于2024年，位于天津市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，天津伟测半导体科技有限公司参与招投标项目5次，专利信息11条。

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作者：情报员