国家知识产权局信息显示，杭州广立测试设备有限公司取得一项名为“一种晶圆老化测试组件及测试装置”的专利，授权公告号CN224803172U，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本实用新型公开了一种晶圆老化测试组件及测试装置，主要涉及晶圆测试设备技术领域。本实用新型的晶圆老化测试组件，包括：转接板组、至少一个探针组和若干个测试板；晶圆老化测试装置，基于上述的晶圆老化测试组件，还包括：晶圆夹具和加热组件。本实用新型将若干测试板设置成插接方式并配合滑动连接，可实现任意测试板的安装和维护更换；通过配备多个测试板，可以降低单个测试板的大小和成本，通过一个探针组对应多个测试板，可以降低设备复杂度和提高并行测试灵活性；同时，测试组件整体位于该测试装置的最上方，需要检修测试组件时，无需拆卸其他组件，且将竖向堆叠的测试板设置成横向排列插接在转接板上，方便对测试板进行拆卸维护。

天眼查资料显示，杭州广立测试设备有限公司，成立于2022年，位于杭州市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州广立测试设备有限公司参与招投标项目6次，专利信息54条，此外企业还拥有行政许可2个。

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作者：情报员