国家知识产权局信息显示，杭州广立测试设备有限公司取得一项名为“一种晶圆老化测试装置”的专利，授权公告号CN224803171U，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本申请涉及一种晶圆老化测试装置，包括：晶圆夹具、测试板、支撑结构、测试结构和连接结构；所述支撑结构被配置为支撑所述晶圆夹具，所述连接结构被配置为电连接所述晶圆夹具和所述测试结构；所述测试结构包括转接器和转接板，所述转接器包括至少一个水平段以及至少一个垂直段，所述转接板与所述垂直段电连接，所述水平段末端设有电连接位，所述测试板通过所述电连接位与所述转接器电连接且每个测试板之间可单独拆卸，使得任意测试板均可独立操作，无需依赖其他层级的拆卸顺序解决了现有的测试装置测试板堆叠相互影响的技术问题。

天眼查资料显示，杭州广立测试设备有限公司，成立于2022年，位于杭州市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州广立测试设备有限公司参与招投标项目6次，专利信息54条，此外企业还拥有行政许可2个。

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作者：情报员