国家知识产权局信息显示，深圳万感芯科技有限公司申请一项名为“芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法”的专利，公开号CN122815142A，申请日期为2026年8月。

专利摘要显示，本申请实施例提供一种芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法，中间隔板设置于基座组件上方，与基座组件共同形成下隔离腔，该腔室与外部变温环境隔离，保持稳定的常温状态。测试罩体设置于中间隔板上方，与中间隔板共同构成上测试腔，用于容纳待测感磁芯片。测试罩体可与外部变温设备连接，从而在上测试腔内形成受控的局部高低温环境。磁场测量部件的探测端从基座组件侧壁水平穿入并延伸至下隔离腔内，其探测点固定设置于上测试腔中芯片安装位置的正下方，用于直接测量芯片所在位置的磁场强度。基于此，将温度应力环境、磁场发生环境与磁场测量环境三者解耦，使各部件均在较优工况下运行，大幅提升测试的精度和可靠性。

天眼查资料显示，深圳万感芯科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本355万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳万感芯科技有限公司拥有行政许可2个。

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作者：情报员