国家知识产权局信息显示，北京奥普托科微电子技术有限公司申请一项名为“一种晶圆缺陷检测方法及计算机程序产品”的专利，公开号CN122841837A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本申请公开了一种晶圆缺陷检测方法及计算机程序产品，涉及半导体制造技术领域。该晶圆缺陷检测方法包括：能够基于待测晶粒的邻域晶粒生成适配性更高的参考模板，有效降低了晶圆不同区域工艺波动带来的差分伪缺陷干扰；通过置信度掩膜引导差分图像、模板图像与待测晶粒图像融合，能够在保留有效差异信息的同时，结合多类图像的有效信息强化微小缺陷特征，提升了后续特征提取网络对弱特征缺陷的识别能力，最终显著提升了晶圆暗场场景下缺陷检测的准确率与抗干扰能力，满足半导体晶圆高精度质检的应用需求。

天眼查资料显示，北京奥普托科微电子技术有限公司，成立于2022年，位于北京市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本19830.3162万人民币。通过天眼查大数据分析，北京奥普托科微电子技术有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目5次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息87条，此外企业还拥有行政许可2个。

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作者：情报员