国家知识产权局信息显示，闪迪技术公司申请一项名为“串零/一全圆漏极侧选择栅极过度编程对策”的专利，公开号CN122842659A，申请日期为2025年6月。

专利摘要显示，本公开涉及串零/一全圆漏极侧选择栅极过度编程对策。一种存储器装置包括漏极侧选择栅极晶体管，该漏极侧选择栅极晶体管用于耦合到存储器单元的存储孔的漏极侧并被配置为保持晶体管阈值电压。该存储孔被布置成包括串的行。控制部件在多个组合擦除编程操作中的一个组合擦除编程操作中擦除该串中的一个串的该漏极侧选择栅极晶体管的该晶体管阈值电压并对其进行编程。该多个组合擦除编程操作中的每个组合擦除编程操作包括擦除部分以及第一编程部分和第二编程部分。响应于串计数器不等于该串的总数量，该控制部件使该串计数器递增，并且在该多个组合擦除编程操作中的另一个组合擦除编程操作中擦除该串中的另一个串的该漏极侧选择栅极晶体管的该晶体管阈值电压并对其进行编程。

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作者：情报员