国家知识产权局信息显示，特克特朗尼克公司申请一项名为“在用于功率应用的并联配置中的离散FET的评估和性能分析”的专利，公开号CN122836523A，申请日期为2026年3月。

专利摘要显示，本公开涉及在用于功率应用的并联配置中的离散FET的评估和性能分析。一种测试和测量仪器包括:两个或更多个探头，每个探头被配置成耦合到在被测器件(DUT)上操作的至少两个并联场效应晶体管（FET）的一个FET,以从每个FET上的相同测试点接收信号；一个或多个模数转换器(ADC),用于将信号转换成用于每个并联FET的波形；显示器；以及一个或多个处理器，被配置为执行代码，该代码使得一个或多个处理器:将至少两个并联FET中的每一个的波形显示为重叠波形；测量至少两个并联FET的一个或多个性能特性；并且基于重叠波形识别至少两个并联FET的最佳操作参数。

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作者：情报员