国家知识产权局信息显示，深圳市大为创芯微电子科技有限公司申请一项名为“一种消费级存储设备的信号完整性测试方法及系统”的专利，公开号CN122867756A，申请日期为2026年8月。

专利摘要显示，本发明公开了一种消费级存储设备的信号完整性测试方法及系统，涉及存储测试技术领域，解决主流信号完整性测试方案不适合消费级产品快速验证的问题，包括记录多个同类型消费级存储设备的接口地址与主机的接口地址，构建消费级存储设备与主机之间的通信链路；设置消费级存储设备与主机之间通信链路信号完整性测试的多组预设测试环境；对消费级存储设备与主机之间的通信链路进行信号完整性测试，得到每组预设测试环境对应的测试结果；基于测试结果进行复现测试并判断消费级存储设备的完整性测试结果，进而得到未通过完整性测试对应消费级存储设备的突变项，并基于突变项对消费级存储设备进行优化，本发明实现低成本、系统化、可复现的信号完整性测试。

天眼查资料显示，深圳市大为创芯微电子科技有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本17000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市大为创芯微电子科技有限公司共对外投资了4家企业，财产线索方面有商标信息43条，专利信息86条，此外企业还拥有行政许可13个。

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作者：情报员