国家知识产权局信息显示，天津伟测半导体科技有限公司申请一项名为“一种用于ATE芯片测试的测试向量生成方法及装置”的专利，公开号CN122886498A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本申请公开了一种用于ATE芯片测试的测试向量生成方法及装置，涉及ATE芯片测试技术领域，解决了现有技术中编码效率低下、错误率高以及无法支持多类型引脚差异化批量生成的问题，该方法包括：获取引脚清单、引脚电气类型标签和硬件DATA数据，根据映射规则库实现引脚与测试向量输出模板之间自动匹配，然后对匹配结果进行标准化排序处理，最后进行合规校验，无需人工逐条读取网表、手动区分类型和逐个挑选模板，大幅节省人力工时，并且标准化排序使工程师在ATE机台调试阶段能够快速定位目标引脚对应的Pattern行，利用合规校验机制在上机前提前拦截全部数据异常，避免因测试向量错误导致的ATE测试界面报错及反复停机整改，有效压缩复测成本。

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作者：情报员