国家知识产权局信息显示，深圳米飞泰克科技股份有限公司取得一项名为“一种芯片电磁测试系统及芯片生产测试系统”的专利，授权公告号CN224840420U，申请日期为2025年8月。

专利摘要显示，本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片电磁测试系统及芯片生产测试系统，包括：分选机、测试机和测试座，所述分选机与所述测试机通信连接，所述分选机和所述测试机分别与所述测试座通信连接，所述分选机用于抓取待测芯片并将所述待测芯片放置于所述测试座上，所述测试机用于测试所述测试座上的所述待测芯片的电磁参数，以及对测试得到的所述电磁参数进行补偿。本申请实施例所提供的芯片电磁测试系统通过分选机、测试机以及测试座的协同工作实现对芯片进行自动化电磁测试与测试补偿。

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作者：情报员