国家知识产权局信息显示，泰克半导体装备（深圳）有限公司取得一项名为“一种积分球内部测试装置”的专利，授权公告号CN224839376U，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本实用新型公开了一种积分球内部测试装置，其包括基座、积分球、探针测试平台和光学测试组件；积分球设置于基座上，积分球内固定设置有用于承载样品的载物支架，积分球的顶端开设有进料窗口，样品可从进料窗口放置于载物支架上；探针测试平台包括探针座和测试探针，探针座与基座相连接，测试探针与探针座相连接，积分球具有探针开口，测试探针自探针开口伸入积分球内，载物支架上开设有让位通孔，测试探针通过让位通孔与样品引脚接触；光学测试组件设置于积分球的出光口，用于对积分球收集的测试光信号进行传输处理。本申请具有在积分球内部对样品进行检测，检测精度高的优点。

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作者：情报员