国家知识产权局信息显示，深圳市大为创芯微电子科技有限公司申请一项名为“一种DRAM颗粒的稳定性测试方法及系统”的专利，公开号CN122889033A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本发明公开了一种DRAM颗粒的稳定性测试方法及系统，涉及存储器稳定性测试技术领域，解决当前内存稳定性测试方法难以反映实际使用过程中不同工况对DRAM颗粒稳定性影响的问题，方法为：对车辆是否为异常状态进行判定，并构建实际时间电压曲线，并结合标准时间电压曲线对车辆是否存在供电异常风险进行判定；对内存单元进行读写测试，基于读写测试的结果判定内存单元的稳定性测试是否通过；构建内存单元的测试组和对照组，并对测试组和对照组进行老化试验，而后归纳老化试验过程中对照组的标准试验数据以及测试组的测试实验数据；对所有测试分组的内存单元稳定性测试是否通过进行判定，本发明在不同运行工况下实现DRAM颗粒的稳定性测试。

天眼查资料显示，深圳市大为创芯微电子科技有限公司，成立于2011年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本17000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市大为创芯微电子科技有限公司共对外投资了4家企业，财产线索方面有商标信息43条，专利信息87条，此外企业还拥有行政许可13个。

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作者：情报员