国家知识产权局信息显示，北京电子量检测装备有限责任公司申请一项名为“一种基于VSI与PSI融合的白光干涉形貌检测方法”的专利，公开号CN122881588A，申请日期为2026年8月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于VSI与PSI融合的白光干涉形貌检测方法，涉及三维测量技术领域，包括以下步骤：获取被测表面的白光干涉图像序列，通过驱动白光干涉仪沿垂直方向进行扫描，在保持采样间隔一致的条件下连续采集多帧干涉图像，并按照采集顺序进行编号，形成干涉图像序列。本发明通过融合VSI与PSI构建粗精一体化测量方法，在单次扫描中实现干涉级次整数与小数部分的协同重构，无需多次采集即可兼顾测量范围与分辨率。通过最小二乘相移算法精确提取相位信息，有效消除量化误差，实现亚纳米级高度测量精度。同时提升系统对振动及噪声的抗干扰能力，显著增强复杂环境下的测量稳定性与重复性。

天眼查资料显示，北京电子量检测装备有限责任公司，成立于2001年，位于北京市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本15550万人民币。通过天眼查大数据分析，北京电子量检测装备有限责任公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目85次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息214条，此外企业还拥有行政许可8个。

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本文源自：市场资讯

作者：情报员