国家知识产权局信息显示，江西兆驰半导体有限公司申请一项名为“LED芯片测试方法及系统”的专利，公开号CN122935218A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本发明提供了一种LED芯片测试方法及系统，方法包括采集晶圆与蓝膜贴合时的全域高清图像；识别晶圆内的所有单颗晶粒，并提取核心物理参数，以生成晶圆坐标档案；将晶圆坐标档案进行归档存储，并传输至测试机台；在晶圆坐标档案中调取对应的坐标档案，采集晶圆若干个特征点的实时坐标数据；将实时坐标数据与对应基准数据进行比对运算；基于偏差数据生成偏移补偿数据，并基于偏移补偿数据对晶圆坐标档案进行动态修正，以生成现场精准定位坐标，并通过精准定位坐标以及测试机台的探针对晶粒进行参数测试。本发明通过取消预扫描步骤，有效适配大批量LED芯片的高效测试需求，降低单位芯片测试成本。

天眼查资料显示，江西兆驰半导体有限公司，成立于2017年，位于南昌市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本160000万人民币。通过天眼查大数据分析，江西兆驰半导体有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目21次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息1800条，此外企业还拥有行政许可62个。

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作者：情报员