在OLED发光材料的常规研发流程里，科研人员往往会优先关注PL量子效率这一核心指标，它直接体现了材料把激发光子转化为发射光子的本征效率，是判断材料发光性能的基础依据，但想要全面评估材料在蓝光场景的实用潜力，仅靠单一的效率指标远远不够，针对这类多参数联合测试需求，光致发光量子效率测试仪HiYield-PL已实现相关功能覆盖，甚至可扩展适配二维材料薄膜光致发光分析仪的同类测试需求，覆盖更多材料研发场景。但很多人可能没注意到，蓝光吸收比和衰减比率这两个容易被忽视的参数，同样是评估材料实际应用潜力的关键参考，在蓝光器件相关的研发场景中甚至有着不可替代的作用。
HiYield-PL是一款光致发光量子效率测量仪，用于测量发光粉体、薄膜和光功能材料的PLQY及吸收、发射特性。系统支持两步法和三步法，并集成积分测量与数据校正。适用于荧光粉、量子点、发光陶瓷、薄膜材料和配方筛选。PLQY是荧光粉、量子点、发光陶瓷、钙钛矿薄膜和光转换材料的重要指标，但弱吸收、散射和样品形态会显著影响结果。HiYield-PL支持两步法和三步法，便于针对粉体、薄膜和固体样品选择合适的测量方法。
技术特点
1.支持两步法和三步法PLQY测试，可根据样品吸收和散射特性选择测量流程。
2.测试波长范围覆盖300-900 nm，扩展近红外1700 nm，适配常见可见发光材料及近红外体系。
3.可同步输出吸收光谱、发射光谱、光谱功率分布、峰值波长和中心波长等参数。
4.光学耦合部件、样品仓、积分测量主机与分析软件建立标准化绝对量子效率测量测量流程。
优势
1.聚焦PLQY标准化测量，流程比通用荧光光谱仪外接积分球更清晰、易复现。
2.两步法/三步法兼容提高对不同样品形态和弱吸收材料的适配能力。
3.专用PLQY测量流程比通用荧光光谱仪外接积分球更易保持校准、操作与数据处理的一致性。
蓝光吸收比和衰减比率：OLED材料研究中容易被忽略的两个关键参数
首先来说蓝光吸收比，这个参数反映的是材料对蓝光波段入射光的吸收效率。我们都知道，蓝光器件的工作前提就是发光层材料能够有效吸收蓝光波段的激发能量，如果材料的蓝光吸收比偏低，就意味着大部分入射的蓝光光子没有被材料捕获利用，不仅会造成能量浪费，还会直接限制器件最终的发光效率，哪怕材料的本征PL量子效率数值很高，实际用在蓝光器件里也很难发挥出理想性能，所以这个参数可以说是判断材料是否适配蓝光器件的第一道门槛。
另一个参数是衰减比率，它衡量的是材料在持续激发条件下的发光稳定性，计算方式是材料的初始PL量子效率值，与经过一段时间连续激发后测得的PL量子效率值的比值。这个参数和OLED器件的实际工作寿命直接相关：器件在运行过程中，发光材料会持续受到电场和激发源的作用，如果材料的稳定性不足，发光效率就会快速下降，也就是我们常说的光漂白现象。衰减比率越接近1，说明材料在长期激发下的性能保留率越高，抗光漂白能力越强，做成器件后的使用寿命预期也就越好。相比只测试初始状态的PL量子效率，衰减比率能更真实地反映材料在实际工作场景中的长期表现。
目前光致发光量子效率测试仪HiYield-PL已经支持激发波长依赖量子效率、蓝光吸收比、衰减比率这三类参数的一站式测量，能够全面、系统地评估发光材料在蓝光应用场景下的综合性能，不再局限于单一的PL量子效率指标，同时还可兼容二维材料薄膜光致发光分析仪的同类测试需求，实现跨领域的材料性能检测覆盖。不管是从事OLED发光层材料研发的团队，还是做钙钛矿LED、二维发光材料相关研究的人员，这些参数都可以作为常规性能指标之外的重要补充维度，帮助大家更精准地筛选出兼具高效率和高稳定性的候选材料，减少后续器件制备环节的试错成本，为新型发光材料的产业化落地提供更可靠的测试支撑。
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