国家知识产权局信息显示，皇家飞利浦有限公司申请一项名为“监测焦斑”的专利，公开号CN122953513A，申请日期为2025年2月。

专利摘要显示，本发明涉及一种X射线成像系统（100）。X射线成像系统包括：X射线源（110），其用于在X射线焦斑（116）处产生X射线辐射（118）；探测器（120），其包括用于探测来自X射线源（110）的X射线辐射（118）的探测器像素（122）；防散射栅格（130），其位于X射线源（110）与探测器（120）之间，其中，防散射栅格（120）包括与探测器像素对准的栅格单元。根据本发明，大多数栅格单元是朝向共同聚焦区聚焦的聚焦栅格单元（132），其中，栅格单元中的至少一个栅格单元是监测栅格单元（134），其中，监测栅格单元（134）朝向不同于共同聚焦区的聚焦区聚焦；并且处理单元（140）被配置为从探测器像素（122）读出探测器信号，其中，处理单元（140）被配置为通过分析探测到的透射穿过监测栅格单元（134）的X射线辐射（118）来确定焦斑的变化。

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作者：情报员