国家知识产权局信息显示，淮安芯测半导体科技有限公司取得一项名为“一种固态硬盘老化测试装置”的专利，授权公告号CN224889308U，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本实用新型提供一种固态硬盘老化测试装置，涉及硬盘性能检测技术领域，包括底座，底座顶部固定安装有性能读取器，性能读取器顶部开设有多个均匀分布的硬盘接口，性能读取器顶部固定安装有多个均匀分布的U型板，U型板内壁转动安装有转轴。本实用新型中，防护时，工作人员拉动拉板，拉板带动卡块离开卡槽，弹簧压缩，此时工作人员转动防护盖，防护盖带动转动板与转轴转动，进而带动转盘转动，直至防护盖与性能读取器顶部贴合，此时防护盖即可将硬盘接口遮挡起来，防止灰尘进入，与此同时另一个卡槽转动到卡块旁，工作人员松开拉板，弹簧的弹力推动卡块进入卡槽内部，如此即可完成固定，对硬盘接口进行保护。

天眼查资料显示，淮安芯测半导体科技有限公司，成立于2025年，位于淮安市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，淮安芯测半导体科技有限公司专利信息1条。

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作者：情报员