SK海力士申请半导体器件及其制造方法专利,在划道区域中设置多个键沟槽段和至少一个缓冲沟槽
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国家知识产权局信息显示,爱思开海力士有限公司申请一项名为“半导体器件及其制造方法”的专利,公开号CN122971253A,申请日期为2026年2月。
专利摘要显示,本公开涉及半导体器件及其制造方法。一种半导体器件,包括:衬底,其包括芯片区域和位于芯片区域外部的划道区域;多个键沟槽段,其设置在划道区域中,并且沿与芯片区域与划道区域之间的边界平行的第一方向排列;以及至少一个缓冲沟槽,其设置在划道区域中,位于芯片区域与多个键沟槽段之间,并沿第一方向形成。
声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。
本文源自:市场资讯
作者:情报员
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