美光在本周的一场活动上公布了下一代3D NAND的计划:代号G11,量产时间定在2027年下半年。公司给出的三个关键指标是——存储密度翻倍、I/O性能比现有产品提升50%、功耗下降。
按美光披露的口径,G11的位密度约为42 Gb/mm²,是当前G9(N160)世代3D TLC约21 Gb/mm²的两倍;接口速度从3,600 MT/s提升到5,400 MT/s;每比特数据传输能耗降低超过25%。
美光总裁兼首席技术与产品官斯科特·德博尔(Scott DeBoer)在活动上表示,G11是“世界上最先进的NAND”,将基于晶圆对晶圆键合技术,在明年下半年爬坡量产。
德博尔解释这项技术引入的时机:“我们之前说过,会在成本划算、并且它能带来当时产品规格所需能力的时候引入晶圆对晶圆键合,现在就是这个技术的正确时机。”
键合带来的灵活性
晶圆对晶圆键合的做法,是把NAND器件的不同部分放在不同晶圆上、用不同工艺分别制造——用新的3D NAND节点做存储阵列,用逻辑工艺做外围电路和I/O——再把它们键合到一起。
美光已经连续几代采用CMOS-under-array(阵列下CMOS)架构,而晶圆键合提供了额外空间,让存储阵列和外围逻辑可以各自独立优化。按计划推进的话,这意味着更大的容量和更高的性能。
另一项变化是层数跨过400层。美光没有公布G11有源字线层的确切数量,也没有说明用了几个存储堆栈,但公司称该技术具备业界领先的存储单元间距,这暗示密度提升同时来自更多层数和更小的单元尺寸。
美光预计在2027年、接近量产启动时披露G11的更多技术细节。
G11之后:材料与单元架构
美光明确会沿三个维度继续推进3D NAND微缩,而不是单纯堆层数。早期3D NAND微缩主要靠增加存储层,未来世代还需要在X、Y轴上缩小单元尺寸,在提升位密度的同时控制制造复杂度。
为此,美光正在开发其所说的高迁移率材料、超高密度单元架构,以及更节能的器件和数据通路。这些技术有望改善晶体管特性、支持存储单元尺寸进一步缩小,并降低NAND内部搬运数据所需的能量。
德博尔谈到后续路线图时说:“G11之后我们有一条很强的路线图,今天不展开太多细节,但重点确实是新材料的单元架构致密化,以及继续聚焦XYZ三个方向的微缩。当前行业方向和美光的方向,都是既增加层数,也缩小单元尺寸。”
美光没有披露G11之后各世代的具体架构细节、密度目标或生产时间表。其路线图显示,未来的NAND微缩会越来越依赖材料、单元架构和外围电路上的创新,而不只是层数增加。
不过,有源层数可以说是提升存储密度最直接的路径,在3D NAND存储需求强劲的背景下,层数竞赛短期内不太可能明显放缓。
这些改进的落点,是面向客户端和数据中心的高容量SSD,以及需要更高带宽和能效的新型AI存储设备。
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