用于测量高功率激光二极管、LED、光纤和其他高强度光源等发光元件的光强度与输出角度之间的关系，特别适合半导体激光的光束测量

远场测量仪器是一种独立设备，用于测量高功率激光二极管、LED、光纤和其他高强度光源等发光元件的光强度与输出角度之间的关系。旨在满足对发光元件光束质量分析和测试的日益增长的需求。该远场扫描仪具有广泛的操作和测量范围，而且并不牺牲速度性能——典型的测量周期仅需几秒，非常适合发光元件的生产测试。

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远场测量仪器是一种独立设备，用于测量高功率激光二极管、LED、光纤和其他高强度光源等发光元件的光强度与输出角度之间的关系。其亮点为：

  • 宽波长范围
  • 带有角度测量装置的设计
  • 快速扫描速度
  • 高采样分辨率

SFC系列远场扫描仪旨在满足对发光元件光束质量分析和测试的日益增长的需求。该远场扫描仪具有广泛的操作和测量范围，而且并不牺牲速度性能——典型的测量周期仅需几秒，非常适合发光元件的生产测试。其应用领域为：

  • 光功率分布
  • 远场及数值孔径（NA）分析测量
  • 光源的质量控制

软件功能

  • 轻松设置扫描参数
  • 自动存档结果
  • 提供高级绘图功能：1D/2D/3D及等高线/极坐标图
  • 数据导出到多种文件格式，如CSV、PDF、PNG、PS、XML等
  • 对结果进行数值分析
  • 可定制以满足客户需求
  • 可集成到自动化测量系统中

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