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汽车电子产品在经历高低温试验后，常见的故障模式主要包括以下几种：
高温试验后的故障模式：
老化：高温会导致电子元器件的老化，影响其性能和寿命。
气化：高温环境下，某些材料可能会发生气化现象。
龟裂：高温会导致材料龟裂，影响结构完整性。
软化：高温会使材料软化，导致机械强度下降。
溶融：高温下，某些材料可能会溶融。
膨胀蒸发：高温会导致材料膨胀和蒸发。
电路系统绝缘不良：高温可能导致电路系统的绝缘性能下降。
机械故障：高温会导致机械部件的故障。
低温试验后的故障模式：
脆化：低温会导致材料脆化，容易断裂。
结冰：低温环境下，水分可能会结冰，影响电子元器件的正常工作。
收缩凝固：低温会导致材料收缩和凝固，影响结构完整性。
机械强度降低：低温会使材料的机械强度降低。
电路系统绝缘不良：低温可能导致电路系统的绝缘性能下降。
密封故障：低温可能导致密封件失效。
高低温试验箱在汽车电子产品设计改进中的具体应用案例有哪些？
高低温试验箱在汽车电子产品设计改进中的具体应用案例包括以下几个方面：
发动机零部件测试：利用高低温试验箱可以对发动机的各个零部件，如活塞、连杆和气门等进行高温耐久性试验和低温冷启动试验。这些测试有助于评估零部件的材料性能、制造工艺和设计合理性。
汽车电子器件耐高低温试验：汽车电子器件需要在不同环境温度下正常工作，因此需要进行耐高低温试验以评估其耐受性。这种试验不仅可以帮助制造商了解产品在极端温度条件下的表现，还可以为改进产品设计、工艺和材料选择提供重要参考信息，从而提高产品质量和竞争力。
MCU芯片高低温冲击测试：采用美国inTEST ECO-710E对MCU产品进行高低温冲击测试，并且满足汽车电子协会（Automotive Electronics Council）的通用标准，例如AEC-Q100标准。这种测试用于评估工业与车载应用环境中产品的可靠性。
车载芯片高低温测试解决方案：inTEST ATS-710E车载芯片高低温测试解决方案用于量产车上安全相关零部件的高低温冲击测试，以确保其符合汽车功能安全标准。