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1.焊锡球

1.焊锡球

许多细小的焊锡球镶陷在回流后助焊剂残留的周边上。用回流曲线出现这个问题,通常是由于升温速率太慢造成的,助焊剂载体在回流之前烧完,发生金属氧化。这个问题一般可通过略微提高曲线升温速率解决。焊锡球也可能是温升速率太快的结果,但是,因为回流曲线相对较慢、较平稳的温升,这种可能性较小。

2.焊锡珠

2.焊锡珠

焊锡珠经常与焊锡球混淆,焊锡珠是一颗或一些大的焊锡球,通常落在片状电容和电阻周围。这通常是因为丝印时锡膏过量堆积所造成的,但有时也可以通过调节温度曲线解决。和焊锡球一样,用回流曲线出现焊锡珠通常是升温速率太慢所造成的。缓慢的升温速率引起毛细管作用,将未回流的锡膏从焊锡堆积处吸到元件下面。回流期间,这些锡膏形成锡珠,由于焊锡表面张力将元件拉向基板,而被挤出到元件边。和焊锡球一样,焊锡珠的解决方法也是通过提高升温速率来解决。

3.熔湿性差

3.熔湿性差

熔湿性差常常是时间与温度比率的结果。锡膏内的活性剂由有机酸组成,随着时间延长和温度升高而退化。如果曲线时间太长,焊接点的熔湿可能受损害。因为使用回流曲线,锡膏活性剂的维持时间通常较长,因此熔湿性差的问题不易发生。如果出现,应编写曲线使整个曲线的2/3处于150℃以下,这有助于延长锡膏活性剂的寿命,改善熔湿性。

4.焊锡不足

4.焊锡不足

焊锡不足通常是加热不均匀或加热过快的结果,使得元件引脚过热,焊锡吸上引脚。回流后引脚看着去锡变厚,焊盘上将出现少锡。降低加热速率或保证装配的受热均匀将有助于解决该问题。

5.立碑

5.立碑

立碑通常是由于不相等的熔湿力造成的,在回流过程后,元件的某一端立起来。如果加热缓慢,板平稳放置,一般不容易发生此问题。降低183℃附近温区的升温速率可有助于预防该问题。

6.无光泽、颗粒状焊点

6.无光泽、颗粒状焊点

这个问题相对比较普遍,可能只是外观上影响美观,但也有可能是焊接点不牢固的征兆。要想解决可以尝试延长锡膏活性剂的寿命,减少锡膏的氧化暴露,改善熔湿能力。具体操作是将预热区和活性区的温度设定减少5℃,将回流区的峰值温度提高5℃。如果未解决,继续加大温度调节直到达到希望的效果。

7.烧焦的残留物

7.烧焦的残留物

这个问题不一定是功能缺陷,但也有可能遇到。通常将回流区的时间和温度都减少可以解决,温度减少5℃左右,若无改善可以继续减少。

8.空洞

8.空洞

空洞是焊接面里的微小气泡,一般是空气或者残留的助焊剂。通常来说,很多因素都会引起空洞,如:峰值温度不够,回流时间过短,升温阶段的温升过快等。空洞的问题需要多次适当调整工艺并观察结果来解决。这里推荐我司研制的适用于正负压焊接工艺的真空回流焊/真空共晶炉,焊接空洞率低,可靠性高,对于低温焊片/焊膏,空洞率可以做到≤1%。

图1.“一种真空回流焊正负压结合焊接工艺”发明专利
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图1.“一种真空回流焊正负压结合焊接工艺”发明专利
图2.“一种可适应正负压焊接工艺的真空舱”实用新型专利
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图2.“一种可适应正负压焊接工艺的真空舱”实用新型专利
图3.其它设备焊接激光器件X-ray检测结果
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图3.其它设备焊接激光器件X-ray检测结果
图4.我司设备焊接激光器件X-ray检测结果
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图4.我司设备焊接激光器件X-ray检测结果
图5.我司设备焊片工艺X-ray检测结果
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图5.我司设备焊片工艺X-ray检测结果
图6.我司设备芯片管壳封装X-ray检测结果
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图6.我司设备芯片管壳封装X-ray检测结果

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