赛默斐视薄膜在线瑕疵检测系统的关键技术：
光源照明技术：特征提取、稳定性、均匀性、色温、光谱；
光电转换：CCD、CMOS、信噪比、像元尺寸、线阵、面阵；
图像数据传输：CamLink、USB、以太网、1394；
数据采集及同步控制；
图像校正技术：平场校正、暗场校正、颜色校正、畸变校正、多台相机一致性校正；
图像处理算法：定位、Blob分析、动态掩膜。
表面缺陷检测一直是行业的难题，主要是成像方面的问题，这是一个表面缺陷检测的颈瓶！在表面缺陷检查中，划痕一般都是具有方向性的，在机器视觉大多数成像中，都是采用高低角度打光，这种打光方式，主要是针对表面比较明显或者划痕比较深的缺陷，在这种情况下，可以得到高质量的图像效果，然而在划痕比较微弱的缺陷中，效果就比较难体现出来了，一般的打光方法很难得到符合要求的图像。在这种情况下，只能采用目视或者干脆不检测。
在薄膜的生产过程中，由于生产工艺及现场环境等影响，容易造成薄膜表面出现黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷。这些缺陷不仅影响薄膜产品的外观，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生产过程中及时检出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生产的根源，实现控制和提高薄膜的表面质量，一直是薄膜企业追求的目标。
现代工业生产对薄膜表面的质量提出越来越高的要求，传统的检测方法如人工目视抽检已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求，基于CCD的赛默斐视薄膜在线瑕疵检测系统与传统的人工肉眼检测相比，具有快速、可靠。准确的优点，目前已被许多薄膜企业所应用。