金融界2024年4月6日消息，据国家知识产权局公告，凌云光技术股份有限公司申请一项名为“缺陷分析方法、缺陷分析装置及电子设备“，公开号CN117830251A，申请日期为2023年12月。

专利摘要显示，本申请公开了一种缺陷分析方法、缺陷分析装置及电子设备。缺陷分析方法包括：获取待检测件的表面的二维图像和三维图像；处理二维图像以获取二维图像中待检测件的表面的缺陷区域，及处理三维图像以获取三维图像中待检测件的表面的缺陷区域；融合处理二维图像和三维图像以获取待检测件的表面的融合图像数据，融合图像数据包括与待检测件的表面的各点对应的像素点的三维坐标；及分析融合图像数据以获取待检测件的表面的缺陷信息。分析各个缺陷点对应的像素点的三维坐标能够确定缺陷的类型为凸起或凹陷，还能得到各个缺陷点对应的像素点与基准平面之间的距离，并获取每个缺陷区域相对于待检测件的表面的深度，对缺陷的分析更加精确。

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