金融界2024年11月14日消息，国家知识产权局信息显示，湖南恩智测控技术有限公司申请一项名为“双向源载系统采样方法、装置、设备、介质及源载系统”的专利，公开号 CN 118937774 A，申请日期为2024年10月。

专利摘要显示，本申请公开了一种双向源载系统采样方法、装置、设备、介质及源载系统，通过选取工作温度高于双向源载系统内的理论工作环境温度的采样电阻，并在采样电阻上封装用于加热的PTC电阻，从而可以利用MOS管实现对PTC加热电阻的温度控制，进而使采样电阻维持在理想工作温度，从而保持较高的采样精度同时还通过增加滤波处理、基于迭代拟合的误差分析处理、基于模型判断的误差分析处理等步骤来对采样电阻的采样结果进行分析，从而得到高精度的电流采样数据。本申请实施例中仅增加PTC电阻和MOS管皆可完成对采样电阻的温度控制，相较于传统的风扇控温方式而言，成本得到了极大的降低，且解决了风扇所存在的缺点。

本文源自：金融界

作者：情报员