绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种信赖性试验设备,主要用于评估印刷电路板等材料的绝缘性能以及离子迁移现象的影响。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统通过在印刷电路板上施加固定的直流电压,并经过长时间的测试(通常为1~1000小时,可按需定制),观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值的变化状况。这个过程也被称为CAF试验、绝缘阻力电阻试验或绝缘劣化试验。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统主要特点
- 高机能:采用高端驱动计测技术,测试时焊接工序大幅减少,提高了工作效率。
- 软件设计:软件界面简单明了,直观易操作,方便用户快速上手和进行试验操作。
- 远程监控:系统具备远程监控功能,用户可以随时监控试验过程,确保试验的顺利进行。
- 构造便利性:系统构造装着脱落式,易于进行保养和交换,提供了高度的便利性和维护性。
- 测试自检:系统具备点检、校正方便的自检功能,保证试验数据的准确性和可靠性。
- 设计精巧:系统设计精巧,不受场所限制,易于移动,适应不同环境和测试需求。
- 可靠性高:系统配有CF卡以防设备故障数据丢失,并以UPS作为系统的支撑,保证试验的安全继续进行。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统应用领域
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统广泛应用于以下领域和材料的绝缘材料吸湿特性测试评估:
- 封装材料:助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料。
- 电子材料:BGA、CSP等精细节距IC封装件。
- 有机半导体:PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等。
- 绝缘材料:用于各种绝缘材料的吸湿性特性评估。
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