报告内容

用于豆类面粉表征的同步辐射成像

研磨会影响面粉的形态以及淀粉的分子结构,而这两者都是决定原料功能特性和特定食品开发的关键因素。实验室级X射线仪器在分析面粉样品的分子结构时,其亮度和分辨率较为有限。相比之下,基于同步辐射的 X 射线具有极高的亮度,能够实现更优异的空间分辨率、更深的穿透力和更清晰的结构细节呈现,是对面粉微观结构进行全面、非侵入性分析的理想工具。因此,为研究鹰嘴豆、海军豆、绿扁豆和黄豌豆经辊磨后所得面粉的结构与功能特性,本研究采用了先进的表征技术,包括基于同步辐射的X射线显微断层扫描、小角X射线散射、粉末X射线衍射,以及激光衍射、中红外光谱和扫描电子显微镜。样品分为面粉流(包括破碎粉、还原粉和副产品粉组分)和混合粉(由这些粉流按不同比例混合而成的复合混合物)。结果显示,不同面粉流、混合粉以及不同豆类面粉之间,在粒度分布、孔隙率、淀粉层状结构、结晶度和蛋白质二级结构方面均存在显著差异。激光衍射、同步辐射显微断层扫描和扫描电子显微镜所得的粒度分布数据呈现出多峰分布特征,且不同仪器的检测结果存在差异。扫描电子显微镜图像显示了形态上的差异:破碎粉流中的颗粒呈聚集状态,而还原粉流中的颗粒则呈孤立、变形结构。鹰嘴豆淀粉的独特之处在于其颗粒具有多孔性。中红外光谱结合主成分分析能够有效区分不同豆类、不同面粉流及其混合粉的样品。

总体而言,这项深入分析揭示了辊磨豆类面粉流及混合粉在结构和形态方面的关键特征,为优化研磨工艺和评估面粉质量提供了极具价值的参考。

专家介绍

Jitendra Paliwal 教授

加拿大温尼伯大学 副校长

加拿大温尼伯大学应用计算机科学系

加拿大曼尼托巴大学生物系统工程系 兼职教授

Jitendra Paliwal博士现任温尼伯大学研究与创新副校长。过去20 年间,他负责了一个在食品质量监测领域具有国际影响力的研究项目,该项目运用先进的电磁成像、微观结构表征及振动光谱技术。他在植物蛋白领域的开创性研究——尤其在研磨和储存过程中蛋白质质量变化,被广泛视为该领域的奠基性成果。目前,他的团队正开发芯片实验室微流控技术,用于分离豆科作物中富含硫的氨基酸,旨在使植物蛋白成为动物蛋白的可行替代品。

Jitendra Paliwal博士任职于2 本知名爱思唯尔期刊的编辑委员会,已发表177 篇经同行评审的技术论文,并参与培养了120余名学生和学者。他在全球范围内发表过众多受邀演讲,自2016年起担任华南理工大学名誉客座教授,同时也是曼尼托巴大学生物系统工程系的兼职教授。在学术领域之外,他对工程界亦有重要贡献:曾担任曼尼托巴省工程师与地球科学家协会(EGM)第100任主席,目前代表曼尼托巴省任职于加拿大工程师协会董事会。他还是加拿大工程师协会及加拿大生物工程学会的会士。

实习编辑:李雄;责编:张睿梅

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为进一步促进动物源食品科学理论的完善与创新,加速科研成果向实际生产力的转化,助力产业实现高质量、可持续发展,由北京食品科学研究院、中国肉类食品综合研究中心、中国食品杂志社将与江西农业大学、江西科技师范大学、南昌师范学院、家禽遗传改良江西省重点实验室共同举办的“2025年动物源食品科学与人类健康国际研讨会”,将于2025年10月25-26日在中国 江西 南昌召开。

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