一、CMP到底是干嘛的?为什么半导体离不开它?

CMP = Chemical Mechanical Polishing(化学机械抛光),也叫化学机械平坦化。

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简单说:它就是半导体制造里的“磨地板神器”。

现在芯片都是多层布线(10层、20层金属很常见),每做完一层介质(氧化物或Low-k),表面都会高低不平,下一层金属填进去会出各种问题。CMP就是要把这层“地板”磨得跟镜子一样平(全局平坦度做到几纳米以内),否则后面光刻、对准、填金属全完蛋。

没有CMP,90nm以下工艺根本玩不下去,它是实现多层互连的绝对核心工艺。

二、CMP到底在磨什么?典型应用场景

  1. STI CMP(浅沟槽隔离)

填完HDP氧化物后,把多余的氧化物磨掉,只留下沟槽里的部分,形成隔离。

  1. 聚硅栅CMP(Gate Last工艺里常用)

高K金属栅时代,常用Replacement Metal Gate,磨掉多余金属和聚硅。

  1. ILD CMP(层间介质抛光

每层金属前的氧化物平坦化,最常见的。

  1. 铜互连CMP(Damascene工艺核心)

最复杂、最赚钱的CMP!

电镀完厚厚一层铜后,先把凸出来的铜全部磨掉(铜清除),停在阻挡层(Ta/TaN)上;然后再把阻挡层和部分介质一起磨掉(Barrier CMP),最终形成平坦的铜线。

  1. W-CMP(钨栓抛光

早年接触孔、Via用钨填,现在还会在某些地方用到。

  1. 新材料CMP

如Co(钴互连)、Ru(钌)、Mo(钼)、SiGe、III-V族等等,先进节点越来越多。

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三、CMP的原理:化学 + 机械 双管齐下

别看就叫一个“抛光”,其实是化学腐蚀 + 机械磨除同时进行:

  • 抛光液(Slurry)里含有:

    • 氧化剂(H₂O₂最常见)→ 把铜氧化成CuO/Cu₂O,变软

    • 纳米磨粒(SiO₂、Al₂O₃、CeO₂等)→ 机械刮除

    • 络合剂、腐蚀抑制剂、pH调节剂 → 控制反应速度和选择比

  • 机械部分靠:

  • 抛光垫(Polyurethane材质,有沟槽)

  • 旋转的抛光头(Wafer被真空吸住,倒扣在垫子上)

  • 下压力(Down Force,通常几psi)

化学让材料变软,机械把它刮走,两者缺一不可。

只化学会腐蚀过度,只机械会严重划伤。

四、CMP设备长什么样?核心部件逐个讲

主流CMP设备:Applied Materials Reflexion LK、Ebara FREX、Lam Research等。

一台典型12英寸CMP设备结构:

1、4个抛光头(Head)

每个Head可以独立加压、转速控制,带着晶圆倒扣在垫子上旋转。

2、3~4个抛光盘(Platen)

每个盘贴一块大抛光垫,Platen 1磨铜,Platen 2磨Barrier,Platen 3清洗或Buffing。

3、抛光液供应系统(Slurry Delivery)

大桶浆料 + 管路 + 喷嘴,流量要精确到ml/min。

4、修垫器(Conditioner/Disk)

上面镶满金刚石颗粒,实时刮抛光垫表面,防止垫子“釉化”(glazing),保持粗糙度。

5、终点检测系统(Endpoint Detection)

  • 电机电流检测(铜清完后摩擦力变大,电流上升)

  • 光学干涉(激光打到晶圆上,铜和介质反射信号不同)

  • Eddy Current(涡流传感器,铜厚实时监测,最主流)

5、后清洗模块(Post-CMP Clean)

兆声清洗 + 刷洗 + Marangoni干燥,务必把残留磨粒、浆料彻底洗干净,否则缺陷爆炸。

五、CMP最难的几个技术痛点(工艺工程师最头疼的)

1、划伤(Scratch)

大颗粒、浆料结块、修垫盘掉金刚石都会造成致命划伤。

2、腐蚀(Dishing & Erosion)

铜线中心下陷(Dishing)、密集区介质磨太多(Erosion),导致电阻上升和可靠性问题。

3、残留(Residue)

铜、Ta、磨粒残留 → 短路、漏电。

4、选择比控制

铜:Barrier:TEOS的选择比要几百:几:1,否则停不住或者过磨。

5、晶圆内均匀性(WIWNU)

中心和边缘磨除速率差要控制在几个%以内。

6、缺陷水平

先进节点要求大颗粒(>0.1μm)加起来不超过几个。

六、铜CMP三步经典工艺(7nm及以上还在用)

Platen 1(Bulk Cu Remove)

  • 高去除率浆料(>5000Å/min)

  • 大下压力

  • 涡流终点,留1000~2000Å铜

Platen 2(Soft Landing + Barrier Remove)

  • 低去除率浆料 + 高选择比

  • 小下压力,停在Barrier上不伤介质

Platen 3(Buffing + 水抛)

  • 纯DI水或极稀浆料

  • 去除表面微划伤和残留

七、未来趋势
  • 极低下压力(<1psi)抛光 → 防止Low-k介质塌陷

  • 无磨粒浆料(Abrasive-free)→ 减少划伤

  • 新材料选择比浆料(Co、Ru、Mo)

  • AI实时终点控制 + 机器学习优化参数

  • 单盘多步工艺(减少设备投资)

总结一句话:CMP看起来就是“磨一磨”,其实是化学、机械、材料、设备、检测、清洗、缺陷全链条最复杂的工艺之一,良率和成本都卡在它手里。真正的CMP大神,是能在划伤、Dishing、均匀性、缺陷之间找到完美平衡的人。