国家知识产权局信息显示，江苏富乐华半导体科技股份有限公司申请一项名为“一种基于纳米防氧化膜的膜厚测量方法”的专利，公开号CN121252724A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于纳米防氧化膜的膜厚测量方法，涉及纳米级膜厚测量技术领域，所述方法包括以下步骤：将含纳米级防氧化膜的样品与挥发性螯合剂共热，使膜层经配位反应转化为挥发性络合物；冷凝收集气态产物并过滤富集于滤膜；测定富集前后滤膜质量分别为b和a，按公式m=b‑a计算膜层产物的质量；根据已知样品面积S和膜层材料密度ρ，按公式h=m/(ρ×S)计算膜厚。该方法通过化学配位‑升华实现膜层的定量分离，有效克服了传统方法因基底粗糙和膜层超薄导致的测量误差，具有准确度高、抗干扰性强的优点。

天眼查资料显示，江苏富乐华半导体科技股份有限公司，成立于2018年，位于盐城市，是一家以从事非金属矿物制品业为主的企业。企业注册资本41707.4258万人民币。通过天眼查大数据分析，江苏富乐华半导体科技股份有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目36次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息223条，此外企业还拥有行政许可86个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

本文源自：市场资讯

作者：情报员