X射线散射测量样品被X射线照射时产生的散射模式、强度和角度。X射线散射具有优势，因为它是一种无损技术，通常与X射线显微镜和X射线光谱学同时使用。形状、色散度、样本量、孔隙度、形态和取向等信息是通过X射线散射测量的少数内容。
X射线散射可以是弹性的，也可以是非弹性的。X射线散射技术有多种，最常见的是X射线衍射/晶体学。该技术依赖样品的晶体结构，通常需要非常高能的硬X射线来获得原子级信息。
其他技术包括小角度X射线散射(SAXS)和广角X射线散射(WAXS)。X射线可以根据样品的不同角度进行弹性散射。通过这种方式，散射X射线的角度可以提供样品物理性质的信息。SAXS提供纳米级分辨率，而WAXS则提供原子级分辨率。这两种技术都可以通过增加或减少探测器与样品之间的间距同时进行。
应用说明
X射线散射导论
当样品被X射线照射时，这些入射X射线可以被样品偏转和散射，产生复杂的图案。对这些图案的分析、强度以及散射角(入射X射线与散射X射线)、偏振、波长和/或能量的变化，可以揭示样品的结构、元素和原子信息，这些技术被称为X射线散射技术。
X射线衍射导论
X射线衍射是一种非破坏性技术，利用弹性散射来确定晶体样品的原子结构信息。要在原子层面辨别细节，需要高能的硬X射线，因为它们波长极小。这是一种广泛用于识别和表征未知晶体材料的技术。
技术说明
软X射线到VUV能量范围的新QE响应曲线
自1969年电荷耦合器件(CCD)技术发明以来，其从近红外延伸到电磁波谱X射线区域的灵敏度已被广泛应用于多种应用领域。
灵活的电子架构扩展了科学相机的实用性
最终，科学相机的真正价值取决于其灵活满足特定研究者认为最有用的性能要求的能力。近年来，随着许多学科不断发展，涵盖更多样化的调查技术，关键要求也随之扩展。在寻找满足多样化需求的科学相机时，必须确保寻找最通用、性能最高的解决方案。
利用基于CCD技术的探测器直接探测X射线(30 eV至20 keV)
CCD日益专业化，以满足商业和科学市场不断变化的需求。在科学市场上，CCD通过多种方式得到了改进和优化，以在广泛的应用领域提供高性能——从光谱学、半导体测试到生物成像和遗传研究。
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