国家知识产权局信息显示，中国建筑材料科学研究总院有限公司申请一项名为“一种原子层沉积薄膜介电常数的测量系统及方法”的专利，公开号CN121324754A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本发明涉及一种原子层沉积薄膜介电常数的测量系统及方法，所述测量系统包括原子层沉积单元、设置于所述原子层沉积单元内的电容器单元及衬底单元、测量单元以及计算单元。本发明所要解决的问题是通过设计特定的电容器，将薄膜镀在电容器中，可以间接测量出薄膜材料的介电常数，进而预测薄膜的厚度。

天眼查资料显示，中国建筑材料科学研究总院有限公司，成立于2000年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本271704.56万人民币。通过天眼查大数据分析，中国建筑材料科学研究总院有限公司共对外投资了36家企业，参与招投标项目1309次，财产线索方面有商标信息21条，专利信息2175条，此外企业还拥有行政许可77个。

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作者：情报员